Система измерения квантовой эффективности (IPCE) солнечных ячеек
Запрос цены
Система SOFN используется для измерения спектральной чувствительности, внутренней (IQE) и внешней (IPCE) квантовой эффективности фотоэлектрических устройств
Компания SOFN предлагает комплексные решения для измерения квантовой эффективности фотовольтаических элементов. Наша измерительная система серии 7-SCSpec использует принцип, позволяющий настраивать тестирующую систему в соответствии с требованиями пользователей. Система позволяет проводить измерение значения спектрального отклика, отражения, пропускания, а также измерять внутреннюю и внешнюю квантовую эффективность (эффективность преобразования монохроматического падающего фотона в электрон), плотность тока короткого замыкания для различных типов ячеек, включая тонкопленочные солнечные элементы с одинарными переходами, двойными переходами и многопереходными элементами из монокристаллического или поликристаллического кремния.
Функции
- Абсолютная спектральная чувствительность (спектральный отклик)
- Абсолютная спектральная способность отражения
- Внутренняя/внешняя квантовая эффективность
- Спектральная пропускаемость
- Плотность тока короткого замыкания и т. д.
Особенности
- Модульная структура позволяет выполнять настройку (кастомизизацию) в соответствии с нуждами пользователя, предлагая при этом экономическую гибкость и широкое применение. Уникальная система измерения предлагает удобное обновление, ремонт и обслуживание.
- Имеется возможность выбора источника света, включая мощные галогенные вольфрамовые лампы и ксеноновые лампы, а также источники света на заказ, выбираемые пользователями.
- Инокальная система деления гарантирует высокий уровень точности и повторяемости длины волны, что исключает влияние мультиспектра и сводит к минимуму рассеянный свет.
- Усиленная обработка слабого сигнала эффективно улучшает точность измерения.
- Доступны различные держатели образца на выбор, что обеспечивает удобный зажим, исключиельный контакт с электодами и минимальные помехи при тестировании слабых сигналов.
- Независимо разработанный высокоэффективный процессор слабого сигнала оснащен импортным предварительным усилителем сигнала постоянного тока. Устройство эффективно изолирует компоненты постоянного тока, возникающие при поляризованном переключении управляющего сигнала.
- Высокая стабильность источников света.
Характеристики
| Спектральный диапазон | 200-2500 нм (опция) | |
| Интервал сканирования | ≥1 нм (регулируемый) | |
| Режим сканирования | Полностью автоматизированный | |
| Возможность настройки с двумя источниками смещенного света, удобная для тестирования тонкопленочных солнечных элементов с более чем 3 переходами | ||
| Фильтры Bias | Семь элементов, в том числе два коротковолновых (импортных) и четыре длинноволновых. | |
| Повторяемость плотности тока короткого замыкания | < 0.1%-0.5% (показатель варьируется в зависимости от источника света и спектрального диапазона) | |
| Рабочий стол с функцией температурного контроля | Диапазон температуры 5-40 ℃ (± 0.5 ℃) | |
| Метод тестирования | Переменный ток, постоянный ток (опция) | |
| Дополнительно могут устанавливаться три автоматические жалюзи (shutters), каждая из которых управляет основным освещением, а также открывает и закрывает два переключателя поляризации | ||
| Выбор двухрешеточного монохроматора | ||
| Дополнительный мониторинг двойного светового пути | ||
Таблицы измерений
Спектральный отклик кремниевых солнечных элементов, измеренная в режиме реального времени
Спектральный отклик, измеренный в режиме реального времени для кремниевых солнечных элементов
Показатель внешней квантовой эффективности кремниевых солнечных элементов, измеренный в режиме реального времени
Показатель внутренней квантовой эффективности кремниевых солнечных элементов, измеренный в режиме реального времени
Кривая квантовой эффективности, измеренная в режиме реального времени для солнечных элементов с двойным переходом
Кривая квантовой эффективности, измеренная в режиме реального времени для солнечных элементов с тремя переходами
Кривая квантовой эффективности, измеренная в режиме реального времени для солнечных элементов, чувствительных к красителю
Кривая спектрального отклика, измеренная в режиме реального времени для солнечных элементов, чувствительных к красителю
Свяжитесь с нами прямо сейчас, чтобы начать общение.
Возникли вопросы? Не проблема! Наша команда поддержки и технические специалисты помогут вам.
Возможно вам будет интересно
Схожая продукция
Обратная связь
Другие продукты
Новинки
Подробнее
Другие продукты
видео
