Серия LH6216 Камера ускоренного старения для интегральных микросхем

Запрос цены

Веб-сайт: http://testchamber-ru.com/12-4-integrated-circuit-ic-dynamic-aging-test-system.html

Комбинированные решения для экологического тестирования аккумуляторов

Система динамических испытаний на старение интегральных схем специально разработана для оценки надежности микросхем в условиях, приближенных к реальной эксплуатации. Она воссоздает комбинированные стресс-факторы, такие как колебания температуры, изменения напряжения и вариации частот, чтобы имитировать реальные сценарии использования. В ходе продолжительных испытательных циклов камера фиксирует тенденции изменения производительности и выявляет потенциальные точки отказа, которые могут возникнуть со временем.

Такой подход к тестированию стал необходимым, поскольку интегральные схемы в настоящее время являются важнейшими компонентами в различных областях, от бытовой и автомобильной электроники до систем телекоммуникации, промышленной автоматизации и аэрокосмической промышленности. Поскольку требования к производительности и сроку службы продолжают расти, тщательная оценка надежности в испытательных камерах ускоренного старения становится все более ключевым элементом гарантии стабильного качества и безопасности продукции.

Особенности

Способна проводить тестирование во всем диапазоне амплитуд напряжения с максимальной частотой до 33 МГц, что соответствует строгим требованиям к проверке производительности.
Оснащена встроенным осциллографом, который обеспечивает высокоскоростную и высокоточную выборку формы сигнала, помогая инженерам улавливать незначительные изменения сигнала во время динамических испытаний на старение.
Поддерживает конфигурации шаблонов на основе микроинструкций с гибкими форматами и расширяемой глубиной, что позволяет эффективно создавать и корректировать сложные тестовые сценарии.
Использует программную архитектуру, основанную на базе данных, которая надежно хранит все данные, гарантируя отсутствие потери тестовых записей даже в случае перебоев в подаче электроэнергии.

Преимущества

Надежное моделирование реальных условий эксплуатации
Система динамических испытаний на старение интегральных схем воссоздает аутентичные рабочие сценарии для микросхем, учитывая динамические факторы, такие как изменение тактовых частот и колебания входных/выходных сигналов во время работы.
Путем точного контроля температуры и напряжения на протяжении всего процесса данная установка ускоренного старения для интегральных микросхем ускоряет естественное старение компонентов, позволяя наблюдать эффекты долговременной деградации в сжатые сроки.
Комплексное обнаружение неисправностей
В то время как микросхемы работают в динамических условиях, оборудование непрерывно отслеживает такие параметры, как энергопотребление, целостность сигнала и электрические помехи. Такая возможность помогает выявлять периодически возникающие проблемы, которые часто остаются скрытыми при обычных статических испытаниях.
Камера ускоренного старения для интегральных микросхем также выявляет потенциальные неисправности, вызванные повторяющимся термическим циклом, такие как незакрепленные контакты или усталость припоя, что позволяет производителям выявлять проблемы на ранней стадии и повышать надежность изделия до его внедрения.
Точный контроль и мониторинг состояния имитируемой окружающей среды
Климатическая камера оснащается системами для поддержания стабильной температуры, влажности и напряжения, а встроенные датчики обеспечивают непрерывную обратную связь и записывают подробные данные на протяжении всего теста.
Такие возможности позволяют создавать комплексные профили старения, способствующие совершенствованию конструкции и производства. Например, анализ производительности нескольких партий в одинаковых условиях может выявить несоответствия или слабые места в производственных процессах.
Гибкие конфигурации тестирования
Система тестирования на ускоренное старение может быть адаптирована к различным технологиям изготовления микросхем, областям применения или технологическим узлам, а параметры тестирования, включая уровни напряжения, диапазоны частот и продолжительность циклов, могут быть адаптированы в соответствии с конкретными требованиями.
Одновременно можно тестировать несколько микросхем, оптимизируя рабочие процессы и снижая затраты. Это делает нашу камеру для испытания на старение подходящей для крупномасштабных производственных процессов, таких как производство бытовой электроники, автомобильной электроники и телекоммуникационного оборудования.

Технические характеристики

Параметры системы	Тип системы	Камера ускоренного старения для интегральных микросхем
	Модель	LH6216
	Стандарты	MIL-STD-883D, MIL-M-38510, GJB548, GJB597
	Размеры (Ш×Г×В)	130×140×195 см
	Источник питания	380В±5%/50 Гц переменного тока
	Мощность	≤21 кВт
Температуры климатической испытательной камеры	Диапазон температур	(Температура окружающей среды 20)℃~ 150℃
Температуры климатической испытательной камеры	Отклонение/изменения температуры	150℃±2.0℃(без нагрузки)/±0.5℃
Параметры требуемого источника питания постоянного тока	Каналы	Каждый канал обеспечивает 4 источника питания: Vcc: источник питания микросхемы, Vmux: источник питания нагрузки, Vclk: источник питания для регулировки амплитуды сигнала, Vee: источник отрицательного рабочего напряжения
	Диапазон напряжений	0~18В
	Диапазон силы тока	0~10А
	Максимальная мощность	100 Вт
Цифровой сигнал	Количество каналов	Каждый модуль управления и измерений обеспечивает 64 независимых высокочастотных цифровых сигнала, причем каждый сигнал выводится независимо в трехстабильном режиме
	Программируемая длительность шага	30 нс~0,4 с
	Программируемая глубина	8 Мбит